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上海儀電物光SGW? X-4/4A/4B顯微熔點(diǎn)儀

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顯微熔點(diǎn)儀
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定。儀器采用顯微鏡觀察方法，既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
SGW® X-4A、SGW® X-4B帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

儀器型號(hào)   SGW® X-4   SGW® X-4A   SGW® X-4B
測(cè)量范圍 室溫~320 ℃ 室溫~320 ℃ 室溫~320 ℃
測(cè)量方法 目視 目視 目視
測(cè)量模式 毛細(xì)管法、熱臺(tái)法 毛細(xì)管法、熱臺(tái)法 毛細(xì)管法、熱臺(tái)法
最小示值 1℃       0.1℃              0.1℃
重復(fù)性 ≤200℃±1℃，＞200±2℃ ≤200℃±1℃，＞200℃ ±2℃ ≤200℃±1℃，＞200±2℃
觀察方式 單目顯微鏡 單目顯微鏡 雙目體視顯微鏡
放大鏡倍數(shù) 40× 40× 40×-100×變倍
電源 220V±22V,50Hz±1Hz 220V±22V,50Hz±1Hz 220V±22V，50Hz±1Hz
儀器尺寸 30mm×22mm×44mm 30mm×22mm×44 30mm×22mm×44mm
儀器凈重 4.5kg 4.5kg 4.5kg